应半导体所集成技术中心主任杨富华研究员的邀请， 2012年8月23日上午，德国的I. W. Rangelow教授来半导体所集成技术中心进行纳米加工技术交流。来访期间，Rangelow博士作了题为“Writing and seeing at the nanoscale”的学术报告，系统地介绍了探针纳米光刻及扫描的先端技术，对纳米探针通过隧穿电流曝光并可实时原位观察进行了精辟的阐述，发表了自己独到的见解，并与在座的集成技术中心从事纳米加工技术的员工和30余研究生进行了热烈的讨论和交流，使大家受益匪浅。

此外，集成技术中心与汇德信公司的创始人周向前博士进行了座谈，大家感谢他们在百忙之中来半导体所集成技术中心作学术报告并进行学术交流，希望双方能进一步加强合作，不断促进先端纳米加工技术的应用和研究。