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多晶SmS退火后杨氏模量异常行为

2021-05-21

 

俄罗斯圣彼得堡ITMO大学V. V. Kaminskii教授等人采用压电超声复合振荡器技术,研究了80-300 K温度范围内、100 kHz频率下的硫化钐多晶(SmS)的杨氏模量和衰减率随不同退火温度的变化规律。结果表明,由于材料的织构化,其杨氏模量随退火温度的升高而降低。同时,在约90 K和125 K的温度下观察到了衰减峰,这可能是由Nibrett-Wilks和Bordoni弛豫所致。

图1. 多晶SmS在不同退火温度下的杨氏模量-温度依赖性:1: 未退火,2: 673 K,3: 913 K,4: 1073 K。光谱1和光谱2中约135 K处观察到的“台阶”随着退火温度的升高而消失。

Anomalies in Young's modulus behavior after annealing in polycrystalline SmS

V. V. Kaminskii, N. V. Sharenkova, G. A. Kamenskaya, M. A. Grevtsev, Yu. V. Lyubimova

J. Semicond. 2021, 42(3): 032101

doi: 10.1088/1674-4926/42/3/032101

Full Text: http://www.jos.ac.cn/article/doi/10.1088/1674-4926/42/3/032101?pageType=en



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