成果编号: | |
成果名称: | |
获奖名称: | 电子级气体SJ2794~2797-87电子级气体中颗粒和痕量杂质测定方法SJ2798~2804.1-87 SJ2805~2807-87 |
获奖类别: | 机电部科技进步奖 |
获奖等级: | 二等奖 |
授奖部门: | |
获奖时间: | 1989年 |
主要完成人: | 尹恩华等 |
登记人: | |
开始日期: | 1989年 |
结束日期: | |
完成单位: | 中国科学院半导体研究所等 |
成果介绍: |
北京市海淀区清华东路甲35号(林大北路中段) 北京912信箱 (100083)
010-82304210/010-82305052(传真)
semi@semi.ac.cn